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迅爾儀表|為什么說好產(chǎn)品是設(shè)計(jì)出來的?設(shè)計(jì)過程決定產(chǎn)品基因
導(dǎo)讀有一個(gè)問題很多人不知道,那就是AK47為什么會(huì)成為世界槍王?帶著這個(gè)問題,讓我們繼續(xù)前行。
在品質(zhì)決定一切的今天,產(chǎn)品在設(shè)計(jì)階段,生產(chǎn)階段,以及物流等環(huán)節(jié),都有相當(dāng)多的因素影響產(chǎn)品的質(zhì)量和品質(zhì),一般來講,產(chǎn)品越到后端,發(fā)生的質(zhì)量問題越突出,所以企業(yè)就集中越多的人力、物力去解決。
對(duì)于制造類企業(yè)來說,處理售后以及生產(chǎn)的問題,占據(jù)了質(zhì)量部門的主要精力。然而,這些質(zhì)量問題暴露,并不僅僅是這單一過程的問題,而是前端的過程某些環(huán)節(jié)和因素失控累加的結(jié)果。所以說,應(yīng)該順著產(chǎn)品生命周期的流程,向前端尋找影響質(zhì)量的真正原因。
產(chǎn)品70%的質(zhì)量問題是由設(shè)計(jì)不當(dāng)引起的,所以我們應(yīng)該從設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)入手,優(yōu)先解決設(shè)計(jì)的質(zhì)量問題。
以迅爾儀表Virgo型數(shù)字渦街流量計(jì)這款產(chǎn)品為例,開發(fā)過程中,迅爾儀表研發(fā)人員深刻感受到了這一點(diǎn),2012年10月,公司正式啟動(dòng)了基于集成芯片(ASIC)的渦街流量計(jì)轉(zhuǎn)換器的開發(fā)。
首先是產(chǎn)品策劃,進(jìn)行市場(chǎng)調(diào)研,得出以下結(jié)論,現(xiàn)有產(chǎn)品存在如下弊端:一是轉(zhuǎn)換器的元件多、體積大,穩(wěn)定性差,現(xiàn)場(chǎng)適用性差,經(jīng)常需要客戶進(jìn)行撥碼調(diào)節(jié),給客戶帶來了諸多不便;二是信號(hào)處理電路輸入阻抗小,導(dǎo)致儀表量程范圍小,大大限制了量程范圍的擴(kuò)展;三是抗干擾性能差,如對(duì)電磁干擾、振動(dòng)過于敏感。
所以,想提高產(chǎn)品的質(zhì)量,必須讓轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)跟上電子線路的發(fā)展速度,使用集成電路技術(shù),把信號(hào)處理電路集成化。芯片的設(shè)計(jì)過程主要包括各個(gè)口徑信號(hào)的建模,完善集成芯片的設(shè)計(jì),芯片經(jīng)過4次流片和測(cè)試,終于成功達(dá)到了預(yù)期的效果。儀表在高溫60℃的環(huán)境中長(zhǎng)期運(yùn)行正常工作。
同時(shí),考慮工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的復(fù)雜性,存在各種干擾,如電磁輻射、靜電、雷擊、高溫等,在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)上也充分地考慮了產(chǎn)品進(jìn)行了電磁兼容(EMC)測(cè)試,包括靜電、脈沖群、雷擊浪涌、磁場(chǎng)干擾,其性能優(yōu)于國標(biāo)要求。同時(shí)也進(jìn)行了環(huán)境試驗(yàn),儀表在高溫60℃的環(huán)境中長(zhǎng)期運(yùn)行正常工作。
總結(jié)一句話:好產(chǎn)品是設(shè)計(jì)出來的,設(shè)計(jì)過程決定了產(chǎn)品的基因。